BW-3010B 晶体管光耦参数测试仪（双功能版）
BW-3010B
晶体管光耦参数测试仪（双功能版）
品牌： 博微电通
名称：晶体管光耦参数测试仪(光耦&光电传感器双功能版)
型号： BW-3010B
用途： BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。
BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器和光电传感器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中，测试条件可以任意设置，测试正向压降和输出电流可达1A，操作简便，实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。
产品电气参数：
产品信息
产品型号：BW-3022A
产品名称：晶体管光耦参数测试仪；
物理规格
主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)
主机重量：＜4.5Kg
主机颜色：白色系
电气环境
主机功耗：＜75W
环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；
相对湿度：≯85%；
大气压力：86Kpa～106Kpa；
防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；
电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作时间：连续；
服务领域：
应用场景：
▶选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
▶检验筛选（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
产品特点：
▶大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单
▶大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.
▶全部可编程的DUT恒流源和电压源.
▶内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.
▶高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V；
▶重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题；
▶软件自校准功能；
▶自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试；
▶DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型，显示测试结果是否合格,并有声光提示；
▶两种工作模式：手动、自动测试模式。
BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系
| 型号类型 |
P1 |
T1 |
P2 |
T2 |
P3 |
T3 |
P4 |
T4 |
| 光藕PC817 |
A |
A测试端 |
K |
K测试端 |
E |
E测试端 |
C |
C测试端 |
BW-3010B测试技术指标：
1、光电传感器指标:
输入正向压降(VF)
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-2V |
2mV |
<1%+2RD |
0-1000MA |
反向电流(Ir)
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-200UA |
0.2UA |
<2%+2RD |
VR:0-20V |
集电极电流(Ic)
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-40mA |
0.2MA |
<1%+2RD |
VCE:0-20V IF:0-40MA |
输出导通压降(VCE(sat))
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-2.000V |
2mV |
1% +5RD |
IC：0-40mA IF:0-40mA |
输出漏电流(Iceo)
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-2.000mA |
2UA |
<2%+2RD |
VR:0-20V |
2、光电耦合器：
耐压(VCEO)测试指标
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-1400V |
1V |
<2%+2RD |
0-2mA |
输入正向压降(VF)
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-2V |
2mV |
<1%+2RD |
0-1000MA |
反向漏电流(ICEO)
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-2000uA |
1UA |
<5% +5RD |
BVCE=25V |
反向漏电流(IR)
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-2000uA |
1UA |
<5% +5RD |
VR=0-20V |
电流传输比(CTR)
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-9999 |
1% |
1% +5RD |
BVCE：0-20V IF:0-100MA |
输出导通压降(VCE(sat))
| 测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
| 0-2.000V |
2mV |
1% +5RD |
IC：0-1.000A IF:0-1.000A |
可分档位总数：10档
BW-3010B测试定义与规范：
AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.
VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.
Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.
Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.
CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。
CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。
Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。
Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。
审核编辑 黄宇